PCB成型槽漏鑼快速檢測方法、電子設備及存儲介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210447460.3 申請日 -
公開（公告）號 CN114544665B 公開（公告）日 2022-07-08
申請公布號 CN114544665B 申請公布日 2022-07-08
分類號 G01N21/95（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王常春 申請（專利權）人 惠州威爾高電子有限公司
代理機構 廣州市時代知識產權代理事務所（普通合伙） 代理人 -
地址 516155廣東省惠州市博羅縣麻陂鎮(zhèn)龍苑工業(yè)區(qū)建設路116號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請是關于一種PCB成型槽漏鑼快速檢測方法、電子設備及存儲介質。該方法包括：通過傳輸裝置將待檢測PCB運送至檢測工位處，通過PCB型號識別裝置獲取待檢測PCB的型號信息，根據型號信息確定PCB成型槽的槽位布局位置以及PCB厚度；根據PCB厚度、預設露出高度以及銷體高度確定每次檢測時待檢測PCB的目標抓取數量；根據目標抓取數量抓取待檢測PCB，將當前抓取的待檢測PCB的PCB定位孔沿PCB定位銷套入；開啟光電檢測傳感器進行檢測，若光電檢測傳感器的接收端收到光信號，則確定在檢PCB無漏鑼現象。本申請?zhí)峁┑姆桨福軌驅CB成型槽的漏鑼現象進行快速檢測，提升PCB的生產質量和生產效率。