一種測試方法、裝置、終端設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202010968115.5 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN112649717A | 公開（公告）日 | 2021-04-13 |
| 申請公布號(hào) | CN112649717A | 申請公布日 | 2021-04-13 |
| 分類號(hào) | G01R31/28 | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 羅寧;李濱村;曹子鵬;張雨力;甄浩凱;劉維球;劉契榮 | 申請（專利權(quán)）人 | 廣州市幾米物聯(lián)科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳中一聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 劉永康 |
| 地址 | 518000 廣東省深圳市寶安區(qū)新安街道興東社區(qū)67區(qū)高新奇廠房4層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請適用于生產(chǎn)智能制造技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種測試方法、裝置、終端設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。本申請實(shí)施例中獲取校準(zhǔn)儀器類型，根據(jù)所述校準(zhǔn)儀器類型確定當(dāng)前同時(shí)執(zhí)行參數(shù)校準(zhǔn)的待測設(shè)備數(shù)量；從已進(jìn)行程序下載的待測設(shè)備集中選取符合預(yù)設(shè)標(biāo)識(shí)信息的第一待測設(shè)備；從除所述第一待測設(shè)備的待測設(shè)備集中選取符合所述待測設(shè)備數(shù)量的第二待測設(shè)備；控制符合所述待測設(shè)備數(shù)量的第二待測設(shè)備執(zhí)行參數(shù)校準(zhǔn)，并控制所述第一待測設(shè)備執(zhí)行符合所述標(biāo)識(shí)信息的功能測試。從而提高PCBA進(jìn)入組裝階段之前的測試效率。 |
