建筑物表面缺陷檢測方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510970820.8 申請日 -
公開（公告）號 CN105608695A 公開（公告）日 2016-05-25
申請公布號 CN105608695A 申請公布日 2016-05-25
分類號 G06T7/00(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 尚硯娜;石晶欣;趙巖;蔡友發(fā);朱君堯 申請（專利權(quán)）人 北京京儀光電技術(shù)研究所有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 楊貝貝;黃健
地址 100010 北京市東城區(qū)東皇城根北街甲20號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種建筑物表面缺陷檢測方法及系統(tǒng)，該方法包括：根據(jù)建筑物上的至少兩個目標(biāo)點(diǎn)在第一架設(shè)坐標(biāo)系下的直角坐標(biāo)和在世界坐標(biāo)系下的世界坐標(biāo)，確定第一映射關(guān)系，該第一映射關(guān)系為空間任意一點(diǎn)在第一架設(shè)坐標(biāo)系下的直角坐標(biāo)與在所述世界坐標(biāo)系下的世界坐標(biāo)的映射關(guān)系，定位建筑物表面的第一缺陷，獲取第一缺陷的圖像信息和在第一架設(shè)坐標(biāo)系下的直角坐標(biāo)；根據(jù)第一缺陷在第一架設(shè)坐標(biāo)系下的直角坐標(biāo)和第一映射關(guān)系，確定第一缺陷的世界坐標(biāo)；根據(jù)第一缺陷在第一架設(shè)坐標(biāo)系下的直角坐標(biāo)和所述第一缺陷的圖像信息確定所述第一缺陷的實(shí)際尺寸信息。這種基于定位的自動缺陷檢測方法比較省時、省力，從而提高缺陷檢測效率。