半導(dǎo)體激光器離線測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510251356.7 申請日 -
公開（公告）號 CN104880659B 公開（公告）日 2018-03-30
申請公布號 CN104880659B 申請公布日 2018-03-30
分類號 G01R31/26;G01M11/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張麗雯;陸耀東;王濤;任奕奕;宋金鵬;張玉瑩 申請（專利權(quán)）人 北京京儀光電技術(shù)研究所有限公司
代理機構(gòu) 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張洋;黃健
地址 100010 北京市東城區(qū)東皇城根北街甲20號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種半導(dǎo)體激光器離線測試方法，各待測試半導(dǎo)體激光器與各測試裝置一一對應(yīng)安裝在測試平臺上，所述各測試裝置中分別包含電源模塊，以對各測試裝置供電，各測試裝置通過數(shù)據(jù)總線與控制主機電連接，該方法包括：測試裝置接收控制主機發(fā)送的包括各待測試參數(shù)的測試指令；測試裝置斷開與控制主機間的電連接，并控制分別與各待測試參數(shù)對應(yīng)的傳感器對待測試半導(dǎo)體激光器的各待測試參數(shù)分別進行參數(shù)數(shù)據(jù)采集；測試裝置對采集到的參數(shù)數(shù)據(jù)進行數(shù)據(jù)處理，并存儲處理結(jié)果；測試裝置測試完成后斷開與半導(dǎo)體激光器的連接，并將處理結(jié)果發(fā)送給控制主機，以實現(xiàn)對各半導(dǎo)體激光器工作參數(shù)的離線測試。