半導(dǎo)體激光器離線測(cè)試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201510251356.7 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN104880659B 公開(公告)日 2018-03-30
申請(qǐng)公布號(hào) CN104880659B 申請(qǐng)公布日 2018-03-30
分類號(hào) G01R31/26;G01M11/00 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 張麗雯;陸耀東;王濤;任奕奕;宋金鵬;張玉瑩 申請(qǐng)(專利權(quán))人 北京京儀光電技術(shù)研究所有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張洋;黃健
地址 100010 北京市東城區(qū)東皇城根北街甲20號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種半導(dǎo)體激光器離線測(cè)試方法,各待測(cè)試半導(dǎo)體激光器與各測(cè)試裝置一一對(duì)應(yīng)安裝在測(cè)試平臺(tái)上,所述各測(cè)試裝置中分別包含電源模塊,以對(duì)各測(cè)試裝置供電,各測(cè)試裝置通過數(shù)據(jù)總線與控制主機(jī)電連接,該方法包括:測(cè)試裝置接收控制主機(jī)發(fā)送的包括各待測(cè)試參數(shù)的測(cè)試指令;測(cè)試裝置斷開與控制主機(jī)間的電連接,并控制分別與各待測(cè)試參數(shù)對(duì)應(yīng)的傳感器對(duì)待測(cè)試半導(dǎo)體激光器的各待測(cè)試參數(shù)分別進(jìn)行參數(shù)數(shù)據(jù)采集;測(cè)試裝置對(duì)采集到的參數(shù)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,并存儲(chǔ)處理結(jié)果;測(cè)試裝置測(cè)試完成后斷開與半導(dǎo)體激光器的連接,并將處理結(jié)果發(fā)送給控制主機(jī),以實(shí)現(xiàn)對(duì)各半導(dǎo)體激光器工作參數(shù)的離線測(cè)試。