一種淺孔取樣支架裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022449223.X 申請日 -
公開（公告）號 CN213688975U 公開（公告）日 2021-07-13
申請公布號 CN213688975U 申請公布日 2021-07-13
分類號 G01N1/08（2006.01）I;F16M11/22（2006.01）I;F16F15/067（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 葉景艷;陳澎軍;韓繼軍;吳琦;胡霄;王晨;戴天飛;熊開寶;張芬芬;許慶華;陶哲 申請（專利權）人 江蘇華東地質環(huán)境工程有限公司
代理機構 南京禾易知識產權代理有限公司 代理人 宋萍
地址 210000江蘇省南京市石門坎102號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種淺孔取樣支架裝置，涉及取樣支架裝置技術領域，為解決現(xiàn)有的淺孔取樣支架裝置使用時穩(wěn)定性不夠，結構復雜的問題。所述支架裝置支撐座一側的上方安裝有第一固定取樣滑動座，所述第一固定取樣滑動座下方的中間位置處安裝有防護套，所述防護套的下方安裝有第二固定取樣滑動座，所述第一固定取樣滑動座的內部安裝有取樣支架滑桿，所述取樣支架滑桿的上端安裝有推把，所述取樣支架滑桿的下端安裝有安裝頭，所述安裝頭的下方安裝有取樣筒。