一種淺孔取樣支架裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022449223.X 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN213688975U 公開（公告）日 2021-07-13
申請公布號(hào) CN213688975U 申請公布日 2021-07-13
分類號(hào) G01N1/08（2006.01）I;F16M11/22（2006.01）I;F16F15/067（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 葉景艷;陳澎軍;韓繼軍;吳琦;胡霄;王晨;戴天飛;熊開寶;張芬芬;許慶華;陶哲 申請（專利權(quán)）人 江蘇華東地質(zhì)環(huán)境工程有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京禾易知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 宋萍
地址 210000江蘇省南京市石門坎102號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種淺孔取樣支架裝置，涉及取樣支架裝置技術(shù)領(lǐng)域，為解決現(xiàn)有的淺孔取樣支架裝置使用時(shí)穩(wěn)定性不夠，結(jié)構(gòu)復(fù)雜的問題。所述支架裝置支撐座一側(cè)的上方安裝有第一固定取樣滑動(dòng)座，所述第一固定取樣滑動(dòng)座下方的中間位置處安裝有防護(hù)套，所述防護(hù)套的下方安裝有第二固定取樣滑動(dòng)座，所述第一固定取樣滑動(dòng)座的內(nèi)部安裝有取樣支架滑桿，所述取樣支架滑桿的上端安裝有推把，所述取樣支架滑桿的下端安裝有安裝頭，所述安裝頭的下方安裝有取樣筒。