一種仿真方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110439607.X 申請日 -
公開（公告）號 CN112989740A 公開（公告）日 2021-06-18
申請公布號 CN112989740A 申請公布日 2021-06-18
分類號 G06F30/39 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 金傲寒;梁敏學(xué) 申請（專利權(quán)）人 北京欣博電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京華進(jìn)京聯(lián)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 方曉燕
地址 100089 北京市海淀區(qū)豐豪東路9號院2號樓4單元701
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及一種仿真方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲介質(zhì)。所述方法包括：調(diào)用預(yù)先存儲的指令監(jiān)測方法，所述指令監(jiān)測方法用于監(jiān)測存儲在靜態(tài)隨機(jī)存取存儲器sram模型文件中的第一預(yù)設(shè)地址處的調(diào)用指令數(shù)據(jù)；當(dāng)監(jiān)測到所述調(diào)用指令數(shù)據(jù)變化時(shí)，發(fā)送觸發(fā)命令給函數(shù)調(diào)用接口；通過所述函數(shù)調(diào)用接口獲取與所述觸發(fā)命令對應(yīng)的函數(shù)標(biāo)識和函數(shù)參數(shù)，基于所述函數(shù)標(biāo)識對應(yīng)的測試函數(shù)和所述函數(shù)參數(shù)，調(diào)用與所述函數(shù)標(biāo)識對應(yīng)的測試函數(shù)，所述測試函數(shù)用于進(jìn)行仿真處理。采用本方法能夠提高適配器的可移植性以及通用性。