電子裝備的可測試性分析方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201710077765.9 申請日 -
公開（公告）號 CN108427778B 公開（公告）日 2021-07-13
申請公布號 CN108427778B 申請公布日 2021-07-13
分類號 G06F30/20;G06F111/10 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 徐志華;何代欽;朱勤;董國卿;張志昌 申請（專利權(quán)）人 北京國基科技股份有限公司
代理機構(gòu) 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王天堯;湯在彥
地址 100085 北京市海淀區(qū)上地信息路1號（北京實創(chuàng)高科技發(fā)展總公司1-1號）01-1幢4層A棟4層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種電子裝備的可測試性分析方法及裝置，包括：確定待構(gòu)建電子裝備所要實現(xiàn)的多個功能；確定多個功能之間的信息流關(guān)系；確定實現(xiàn)所述多個功能所需的多個硬件部件，建立硬件部件集；根據(jù)多個功能之間的信息流關(guān)系確定多個硬件部件之間的信號流關(guān)系；根據(jù)多個硬件部件之間的信號流關(guān)系，構(gòu)建硬件部件集的多信號流圖模型；根據(jù)所述硬件部件集的多信號流圖模型確定所述硬件部件集的測試性指標(biāo)；分析所述硬件部件集的測試性指標(biāo)是否符合電子裝備構(gòu)建條件。本發(fā)明方法通過對功能層面的信息流分析，大大降低硬件層面測試性多信號流模型的建立。在功能層面即可了解測試性狀態(tài)，輔助系統(tǒng)人員對測試性的考慮，降低測試性工作的難度，便于推廣。