一種基于方位角測量的局部放電定位方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201711328354.9 申請日 -
公開（公告）號 CN108196169A 公開（公告）日 2018-06-22
申請公布號 CN108196169A 申請公布日 2018-06-22
分類號 G01R31/12 分類 測量；測試;
發(fā)明人 高強(qiáng);劉齊;郭占男;王茂軍;鐘丹田;張光明;原峰;潘豐厚;代繼承;李在林;張?jiān)迫A;潘家玉 申請（專利權(quán)）人 沈陽科開電力技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海東信專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 國網(wǎng)遼寧省電力有限公司電力科學(xué)研究院;沈陽科開電力技術(shù)有限公司;國家電網(wǎng)公司;上海交通大學(xué)
地址 110006 遼寧省沈陽市和平區(qū)四平街39號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于方位角測量的局部放電定位方法，包括步驟：(1)在檢測現(xiàn)場設(shè)置由M×M個(gè)特高頻傳感器構(gòu)成的特高頻傳感器平面陣列，該M×M個(gè)特高頻傳感器均勻分布；(2)構(gòu)建平面坐標(biāo)系，設(shè)局部放電源位于該平面坐標(biāo)系中的坐標(biāo)(x，y)處；(3)將特高頻傳感器平面陣列設(shè)置在平面坐標(biāo)系內(nèi)的第一位置(x1，y1)，則局部放電源與第一位置的夾角為局部放電第一方位角θ1；(4)獲得第一方位角θ1；(5)將特高頻傳感器平面陣列移動至平面坐標(biāo)系內(nèi)的第二位置(x2，y2)，則局部放電源與第二位置的夾角為局部放電第二方位角θ2；(6)獲得第二方位角θ2；(7)基于局部放電源的位置方程，獲取局部放電源的坐標(biāo)進(jìn)行定位。