一種FLASH芯片檢測設備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110805478.1 申請日 -
公開（公告）號 CN113539348A 公開（公告）日 2021-10-22
申請公布號 CN113539348A 申請公布日 2021-10-22
分類號 G11C29/50;G11C29/08;G11C29/56 分類 信息存儲;
發(fā)明人 李昊天;王登輝 申請（專利權）人 西安環(huán)宇芯微電子有限公司
代理機構 成都三誠知識產權代理事務所（普通合伙） 代理人 成實;饒振浪
地址 710000 陜西省西安市雁塔區(qū)電子西街3號#102廠房一、二樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種FLASH芯片檢測設備，包括底座，所述底座的頂端固定連接有支撐架，且支撐架的兩端分別活動套接有齒輪，且齒輪的正面固定連接有固定盤，并且固定盤的正面開設有軌槽，所述兩端齒輪的外部活動套接有傳送帶，且傳送帶的內壁等距固定分布有齒塊，所述傳送帶通過齒塊與齒輪齒輪嚙合連接，通過設置電機、支桿三、活動螺柱、支桿二、支桿一、齒輪和固定盤之間相互配合傳動，使得支桿二在固定盤內的軌槽回轉轉動，從而使得齒輪間歇性齒輪傳動齒塊和傳送帶運轉，實現(xiàn)傳送帶間歇有停頓的傳動的目的，使得后期對芯片輸送檢測時提供了檢測時間，提高了工作效率。