一種環(huán)路阻抗測試系統

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110788347.7 申請日 -
公開（公告）號 CN113552417A 公開（公告）日 2021-10-26
申請公布號 CN113552417A 申請公布日 2021-10-26
分類號 G01R27/02（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I;B08B5/04（2006.01）I;B08B13/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 孫桂芳;李昊天 申請（專利權）人 西安環(huán)宇芯微電子有限公司
代理機構 成都三誠知識產權代理事務所（普通合伙） 代理人 成實;饒振浪
地址 710000陜西省西安市雁塔區(qū)電子西街3號#102廠房一、二樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種環(huán)路阻抗測試系統，包括箱體，所述箱體的一側活動連接有箱門，且所述箱體內設有兩個繞線輪，所述繞線輪的兩側固定連接有轉桿，所述轉桿的另一端通過軸承活動連接在箱體的兩側內壁上，所述繞線輪的下方設有加工臺，所述加工臺的兩側均固定連接有連接塊，所述連接塊的另一側固定連接有滑塊，所述箱體的兩側內壁上均開設有與滑塊相匹配的滑槽，所述滑塊位于滑槽內，所述箱體的兩側底部內壁上均固定連接有第一電機，所述第一電機的輸出軸上纏繞有鋼絲繩，所述鋼絲繩另一側繞過繞線輪，并固定連接有加工臺的頂部，本發(fā)明具有避免灰塵粘附在電路板上，且可對不同大小的電路板進行夾持的特點。