一種應(yīng)用于半導(dǎo)體的磁力噴墨測試工藝

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610741992.2 申請日 -
公開（公告）號 CN106328555A 公開（公告）日 2017-01-11
申請公布號 CN106328555A 申請公布日 2017-01-11
分類號 H01L21/66(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 葛宜威;崔亮;王毅 申請（專利權(quán)）人 揚(yáng)州杰盈汽車芯片有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京縱橫知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 陶得天
地址 225008 江蘇省揚(yáng)州市維揚(yáng)經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)荷葉西路6號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種應(yīng)用于半導(dǎo)體的磁力噴墨測試工藝。提供了一種操作簡單，能夠高效快速剔除不合格晶粒的應(yīng)用于半導(dǎo)體的磁力噴墨測試工藝。包括以下步驟：S1、先激光切割晶片呈半切透狀，形成若干待分離的晶粒；S2、測試晶粒，區(qū)分不合格晶粒；S3、磁性墨水配制；S4、晶片噴墨，對不合格晶粒進(jìn)行噴墨；S5、烘干，將噴墨后的晶片放置在烘箱內(nèi)，烘箱溫度為80?100℃，時(shí)間為15?25min；S6、裂片，將待裂晶片放置在兩張防靜電麥拉紙之間，再通過硬質(zhì)膠棒滾碾晶片，使其分裂成若干晶粒；S7、磁鐵吸附帶墨水的不合格晶粒，完成。本發(fā)明降低了生產(chǎn)成本，提高了工作效率，成品率高。