一種應用于半導體的磁力噴墨測試工藝
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201610741992.2 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN106328555A | 公開（公告）日 | 2017-01-11 |
| 申請公布號 | CN106328555A | 申請公布日 | 2017-01-11 |
| 分類號 | H01L21/66(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 葛宜威;崔亮;王毅 | 申請（專利權）人 | 揚州杰盈汽車芯片有限公司 |
| 代理機構 | 南京縱橫知識產權代理有限公司 | 代理人 | 陶得天 |
| 地址 | 225008 江蘇省揚州市維揚經濟開發(fā)區(qū)荷葉西路6號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 一種應用于半導體的磁力噴墨測試工藝。提供了一種操作簡單，能夠高效快速剔除不合格晶粒的應用于半導體的磁力噴墨測試工藝。包括以下步驟：S1、先激光切割晶片呈半切透狀，形成若干待分離的晶粒；S2、測試晶粒，區(qū)分不合格晶粒；S3、磁性墨水配制；S4、晶片噴墨，對不合格晶粒進行噴墨；S5、烘干，將噴墨后的晶片放置在烘箱內，烘箱溫度為80?100℃，時間為15?25min；S6、裂片，將待裂晶片放置在兩張防靜電麥拉紙之間，再通過硬質膠棒滾碾晶片，使其分裂成若干晶粒；S7、磁鐵吸附帶墨水的不合格晶粒，完成。本發(fā)明降低了生產成本，提高了工作效率，成品率高。 |
