液晶芯片設計檢測方法、裝置、存儲介質及液晶顯示系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910990614.1 申請日 -
公開（公告）號 CN110781636A 公開（公告）日 2020-02-11
申請公布號 CN110781636A 申請公布日 2020-02-11
分類號 G06F30/3308 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 殷雪敏 申請（專利權）人 深圳慧新辰技術有限公司
代理機構 深圳市恒程創(chuàng)新知識產權代理有限公司 代理人 深圳慧新辰技術有限公司
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)粵海街道高新區(qū)社區(qū)白石路3609號深圳灣科技生態(tài)園二區(qū)9棟B4座1501
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種液晶芯片設計檢測方法、裝置、存儲介質及液晶顯示系統(tǒng)，所述方法包括：獲取設計液晶芯片的仿真數(shù)據(jù)；依據(jù)所述仿真數(shù)據(jù)，生成可視化的仿真圖像；獲取所述仿真圖像的顯示數(shù)據(jù)，并依據(jù)所述顯示數(shù)據(jù)判斷相應的像素點是否為缺陷點；依據(jù)對相應的像素點的判斷結果，檢測液晶芯片設計是否有缺陷。本發(fā)明能夠快速有效檢測到液晶芯片設計電路中的缺陷。