一種紫外成像的光子計數空間密度計算方法及其成像設備
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202010043903.3 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN111157110A | 公開（公告）日 | 2020-05-15 |
| 申請公布號 | CN111157110A | 申請公布日 | 2020-05-15 |
| 分類號 | G01J1/42;G01R31/12 | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 羅時聰;郭麗萍;趙慶;趙文彬 | 申請（專利權）人 | 上海電氣輸配電試驗中心有限公司 |
| 代理機構 | 北京前審知識產權代理有限公司 | 代理人 | 上海電氣輸配電試驗中心有限公司 |
| 地址 | 200001 上海市靜安區(qū)靈石路696號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 一種紫外成像的光子計數空間密度計算方法，包括以下步驟：S100：獲得目標的紫外放電圖像，所述紫外放電圖像至少包括：目標的紫外圖像信息以及目標的可見光圖像信息的合成信息；S200：對所述紫外放電圖像提取紫外光斑輪廓，其中，提取的原則包括：刪除小面積的連通域的干擾項；S300：對紫外光斑輪廓內的空間光子密度計算；S400：根據預先實驗統計所得到的紫外光子的衰減曲線，對所述空間光子密度進行校準。 |
