一種0.15微米T形柵的工藝制作方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201910304548.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN110010454B | 公開(公告)日 | 2021-09-28 |
申請公布號 | CN110010454B | 申請公布日 | 2021-09-28 |
分類號 | H01L21/28(2006.01)I;H01L21/027(2006.01)I;H01L29/778(2006.01)I;H01L21/335(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 毛江敏;彭挺;陳俊奇;郭盼盼 | 申請(專利權(quán))人 | 成都海威華芯科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 成都華風(fēng)專利事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 張巨箭;徐豐 |
地址 | 610029四川省成都市雙流區(qū)中國(四川)自由貿(mào)易試驗區(qū)成都市雙流區(qū)西南航空港經(jīng)濟開發(fā)區(qū)物聯(lián)大道88號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種0.15微米T形柵的工藝制作方法,屬于半導(dǎo)體制作工藝技術(shù)領(lǐng)域,方法包括以下步驟:在半導(dǎo)體基板上形成具有圓弧邊角的T形柵下層根部腔體,使用等離子體清除T形柵下層根部腔體底部的殘渣;在T形柵下層根部腔體表面涂布隔離試劑,對隔離試劑進行烘烤、水洗,形成水性擴散微縮隔離層;制備T形柵上層頭部腔體,使用等離子體清除T形柵下層根部腔體底部的第二光刻膠殘渣和第一微縮隔離層;用酸刻蝕掉T形柵下層根部腔體表面的阻擋層;沉積柵極金屬層,去除半導(dǎo)體基板表面所有光刻膠得到T形柵。本發(fā)明需進行兩次光刻工藝即可完成0.15微米T形柵的制作,大大節(jié)省了時間,提高了工作效率,利于大量生產(chǎn)。 |
