阻抗值的管控方法、線路板的設(shè)計方法及剛撓結(jié)合板
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202010185723.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN111405745B | 公開(公告)日 | 2021-08-27 |
申請公布號 | CN111405745B | 申請公布日 | 2021-08-27 |
分類號 | H05K1/02 | 分類 | 其他類目不包含的電技術(shù); |
發(fā)明人 | 陳蓓 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳市華芯微測技術(shù)有限公司 |
代理機構(gòu) | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 曾旻輝 |
地址 | 518000 廣東省深圳市龍崗區(qū)寶龍街道寶龍社區(qū)寶清路8號雙環(huán)A棟501-01 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種阻抗值的管控方法、線路板的設(shè)計方法及剛撓結(jié)合板,阻抗值的管控方法包括以下步驟:根據(jù)第一預(yù)設(shè)要求獲取第一線路;根據(jù)第二預(yù)設(shè)要求在銅層上預(yù)設(shè)第一區(qū)域和第二區(qū)域,所述第一區(qū)域和所述第二區(qū)域分別對應(yīng)所述第一線路的相對兩側(cè),其中,所述第一區(qū)域的第一殘銅率和所述第二區(qū)域的第二殘銅率不相同。相比傳統(tǒng)第一線路對應(yīng)位置的下方為固定殘銅率的設(shè)計方法,當(dāng)?shù)谝粎^(qū)域的第一殘銅率和第二區(qū)域的第二殘銅率不相同時,第一區(qū)域和第二區(qū)域通過介質(zhì)層與第一線路之間實現(xiàn)了交叉交流,從而延長了電感交距相互交換電流產(chǎn)生的電容,使阻抗值得到應(yīng)有補償,從而實現(xiàn)了阻抗值與設(shè)計阻抗值保持一致,以滿足所需的阻抗要求。 |
