阻抗值的管控方法、線路板的設(shè)計(jì)方法及剛撓結(jié)合板

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010185723.9 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN111405745A 公開(kāi)(公告)日 2020-07-10
申請(qǐng)公布號(hào) CN111405745A 申請(qǐng)公布日 2020-07-10
分類(lèi)號(hào) H05K1/02(2006.01)I 分類(lèi) -
發(fā)明人 陳蓓 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 深圳市華芯微測(cè)技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州華進(jìn)聯(lián)合專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 代理人 廣州大愚電子科技有限公司
地址 510700廣東省廣州市黃埔區(qū)大坑上東街16號(hào)102
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種阻抗值的管控方法、線路板的設(shè)計(jì)方法及剛撓結(jié)合板,阻抗值的管控方法包括以下步驟:根據(jù)第一預(yù)設(shè)要求獲取第一線路;根據(jù)第二預(yù)設(shè)要求在銅層上預(yù)設(shè)第一區(qū)域和第二區(qū)域,所述第一區(qū)域和所述第二區(qū)域分別對(duì)應(yīng)所述第一線路的相對(duì)兩側(cè),其中,所述第一區(qū)域的第一殘銅率和所述第二區(qū)域的第二殘銅率不相同。相比傳統(tǒng)第一線路對(duì)應(yīng)位置的下方為固定殘銅率的設(shè)計(jì)方法,當(dāng)?shù)谝粎^(qū)域的第一殘銅率和第二區(qū)域的第二殘銅率不相同時(shí),第一區(qū)域和第二區(qū)域通過(guò)介質(zhì)層與第一線路之間實(shí)現(xiàn)了交叉交流,從而延長(zhǎng)了電感交距相互交換電流產(chǎn)生的電容,使阻抗值得到應(yīng)有補(bǔ)償,從而實(shí)現(xiàn)了阻抗值與設(shè)計(jì)阻抗值保持一致,以滿足所需的阻抗要求。??