一種顆粒物濃度測(cè)量方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201910656989.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN110530766B 公開（公告）日 2020-07-17
申請(qǐng)公布號(hào) CN110530766B 申請(qǐng)公布日 2020-07-17
分類號(hào) G01N15/06 分類 -
發(fā)明人 熊友輝;何濤;李少勇;楊偉 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 四方光電股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 武漢知產(chǎn)時(shí)代知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 武漢四方光電科技有限公司;四方光電股份有限公司
地址 430205 湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)鳳凰產(chǎn)業(yè)園鳳凰園三路3號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種顆粒物濃度測(cè)量方法及裝置，通過獲取無顆粒物沉積狀態(tài)下光電轉(zhuǎn)換裝置輸出的電信號(hào)經(jīng)前置放大器A1后輸出的放大信號(hào)，確定初始基底電壓Umin～Umax；實(shí)時(shí)對(duì)光電轉(zhuǎn)換裝置輸出的電信號(hào)U1經(jīng)過前置放大器A1的基底電壓值Ut進(jìn)行檢測(cè)，并將基底電壓值Ut與初始基底電壓Umin～Umax進(jìn)行比較，并根據(jù)比較結(jié)果對(duì)電信號(hào)U1中的直流分量進(jìn)行補(bǔ)償。本發(fā)明一方面能夠克服由于顆粒物沉積產(chǎn)生的雜散光、氣流通道內(nèi)壁上產(chǎn)生的反射光對(duì)測(cè)量信號(hào)的干擾，另一方面能夠克服由于電子元器件一致性差及溫度驟變等因素造成的測(cè)量信號(hào)失真的技術(shù)問題，具有成本低、體積小巧、測(cè)量精度高的技術(shù)優(yōu)勢(shì)。