一種用于集成電路的測(cè)試裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201921630999.2 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN211014349U 公開(公告)日 2020-07-14
申請(qǐng)公布號(hào) CN211014349U 申請(qǐng)公布日 2020-07-14
分類號(hào) G01R1/02(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 李建中;夏中宇;徐雪舟 申請(qǐng)(專利權(quán))人 無錫美偌科微電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 蘇州國卓知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 無錫美偌科微電子有限公司
地址 214135江蘇省無錫市無錫新區(qū)菱湖大道200號(hào)中國傳感網(wǎng)國際創(chuàng)新園A棟407室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種用于集成電路的測(cè)試裝置,包括底座,底座上方通過升降組件固定安裝有安裝底板,安裝底板上方通過伸縮桿活動(dòng)安裝有檢測(cè)上板,安裝底板兩側(cè)固定安裝有支撐架,伸縮桿表面套接有緩沖彈簧,支撐架頂部中心豎直固定安裝有第一液壓升降缸,第一液壓升降缸輸出軸端通過探針安裝座安裝有若干檢測(cè)探針,檢測(cè)上板上表面兩側(cè)對(duì)角線設(shè)置有兩個(gè)夾塊,檢測(cè)上板上表面均與間距鋪設(shè)有若干真空吸盤,真空吸盤輸入端連接有真空泵。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單合理,大大方便了人們對(duì)集成電路進(jìn)行檢測(cè),提升了集成電路的檢測(cè)效率,且有效提升了集成電路的檢測(cè)效果。??