具有抗輻照結(jié)構(gòu)的IGBT器件及其制備方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201710997718.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN107845672A | 公開(公告)日 | 2018-03-27 |
申請公布號 | CN107845672A | 申請公布日 | 2018-03-27 |
分類號 | H01L29/08;H01L21/331;H01L29/739 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 徐承福;朱陽軍 | 申請(專利權(quán))人 | 江蘇芯長征微電子集團股份有限公司 |
代理機構(gòu) | 蘇州國誠專利代理有限公司 | 代理人 | 韓鳳 |
地址 | 550081 貴州省貴陽市觀山湖區(qū)林城西路摩根中心A座10層A-10-003號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種具有抗輻照結(jié)構(gòu)的IGBT器件及其制備方法,其包括第一導(dǎo)電類型基區(qū)以及設(shè)置于所述第一導(dǎo)電類型基區(qū)正面的正面元胞結(jié)構(gòu);在第一導(dǎo)電類型基區(qū)的背面設(shè)置第二導(dǎo)電類型集電區(qū),在所述第二導(dǎo)電類型集電區(qū)的外圈設(shè)置埋氧層,埋氧層埋設(shè)在第一導(dǎo)電類型基區(qū)內(nèi),埋氧層在第一導(dǎo)電類型基區(qū)內(nèi)的深度大于第二導(dǎo)電類型集電區(qū)在第一導(dǎo)電類型基區(qū)內(nèi)的深度,第二導(dǎo)電類型集電區(qū)與埋氧層接觸;所述第二導(dǎo)電類型集電區(qū)通過集電極連接引出體與位于第一導(dǎo)電類型基區(qū)正面上方的集電極金屬電連接,集電極連接引出體通過內(nèi)絕緣隔離體與第一導(dǎo)電類型基區(qū)的側(cè)面絕緣隔離。本發(fā)明結(jié)構(gòu)緊湊,能有效提高IGBT器件的抗輻照能力,安全可靠。 |
