一種半導(dǎo)體晶片加工及對(duì)晶片進(jìn)行探針測(cè)試的裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201821602638.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN208984755U 公開（公告）日 2019-06-14
申請(qǐng)公布號(hào) CN208984755U 申請(qǐng)公布日 2019-06-14
分類號(hào) G01R31/26（2014.01）I; G01R1/067（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 張小偉 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 江蘇芯長(zhǎng)征微電子集團(tuán)股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 550000 貴州省貴陽市觀山湖區(qū)林城西路摩根中心A棟第11層2號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種半導(dǎo)體晶片加工及對(duì)晶片進(jìn)行探針測(cè)試的裝置，包括半導(dǎo)體晶片檢測(cè)裝置，所述半導(dǎo)體晶片檢測(cè)裝置上靠近其底部的兩側(cè)開設(shè)有第一斜面。本實(shí)用新型通過設(shè)置移動(dòng)塊、滾珠和放置塊，當(dāng)需要移動(dòng)半導(dǎo)體晶片檢測(cè)裝置時(shí)，轉(zhuǎn)動(dòng)螺紋桿驅(qū)動(dòng)與其螺紋連接的兩個(gè)移動(dòng)塊做相離運(yùn)動(dòng)，使移動(dòng)塊沿著半導(dǎo)體晶片檢測(cè)裝置的兩側(cè)滑動(dòng)到與地面接觸，然后反向轉(zhuǎn)動(dòng)螺紋桿，通過螺紋桿將兩個(gè)移動(dòng)塊相向運(yùn)動(dòng)，將半導(dǎo)體晶片檢測(cè)裝置和放置塊抬起，從而方便移動(dòng)半導(dǎo)體晶片檢測(cè)裝置；將移動(dòng)塊復(fù)位即可，使?jié)L珠懸空，半導(dǎo)體晶片檢測(cè)裝置通過放置塊穩(wěn)定的放置在地面上，達(dá)到了移動(dòng)到合適位置后穩(wěn)定放置半導(dǎo)體晶片檢測(cè)裝置的效果。