一種同位素豐度高精度檢測(cè)飛行時(shí)間質(zhì)譜探測(cè)器
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110254910.2 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN112863998A | 公開(公告)日 | 2021-05-28 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN112863998A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-05-28 |
分類號(hào) | H01J49/40(2006.01)I;H01J49/06(2006.01)I;G01N27/62(2021.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 劉藝琳;王青;李彬;王勁;張旻南 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 北京中天鋒安全防護(hù)技術(shù)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京華仁聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 陳建 |
地址 | 100048北京市海淀區(qū)首都體育館南路1號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種同位素豐度高精度檢測(cè)飛行時(shí)間質(zhì)譜探測(cè)器,通過在離子門衰減器中引入脈沖電壓電極瞬時(shí)改變高豐度離子運(yùn)動(dòng)軌跡,然后通過柵網(wǎng)衰減器降低離子強(qiáng)度,高豐度離子衰減后使用環(huán)形探測(cè)器檢測(cè)信號(hào)。低豐度離子通過時(shí),離子門電壓保持不變,離子保持原來的運(yùn)動(dòng)軌跡,被中心軸探測(cè)器檢測(cè)。高豐度離子和低豐度離子分別采用不同放大倍數(shù)的探測(cè)器進(jìn)行檢測(cè),結(jié)合前端的高豐度離子衰減系統(tǒng)降低采集系統(tǒng)飽和而引起濃度測(cè)量的誤差,衰減倍數(shù)可以調(diào)節(jié)離子門衰減器和柵網(wǎng)衰減器在100到5之間調(diào)節(jié),從而實(shí)現(xiàn)含量差別很大的同位素在飛行時(shí)間質(zhì)譜儀實(shí)現(xiàn)高精度檢測(cè)。?? |
