直接電子探測相機進行EBSD和TKD測試切換的裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022206296.6 申請日 -
公開（公告）號 CN213041761U 公開（公告）日 2021-04-23
申請公布號 CN213041761U 申請公布日 2021-04-23
分類號 G01N23/203;G01N23/20058;G01N23/205;G01N23/02;G01N23/20016;G01N23/20 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張偉;鄧偉;許佳佳;彭璟;樊申騰;張濤 申請（專利權(quán)）人 深圳市美信檢測技術(shù)股份有限公司
代理機構(gòu) 北京高沃律師事務(wù)所 代理人 王富強
地址 518108 廣東省深圳市寶安區(qū)石巖街道松白公路北側(cè)方正科技工業(yè)園研發(fā)樓1108室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開直接電子探測相機進行EBSD和TKD測試切換的裝置，涉及測試裝置技術(shù)領(lǐng)域，主要結(jié)構(gòu)包括包括底座、滑動臂、中間臂和前臂；所述滑動臂可滑動的設(shè)置于所述底座上，所述中間臂可轉(zhuǎn)動的設(shè)置于所述滑動臂與所述前臂之間，直接電子探測器設(shè)置于所述前臂的前端。通過調(diào)整中間臂和前臂的角度以改變直接電子探測器的角度，通過滑動臂改變直接電子探測器的的水平方向的位置，從而能夠?qū)崿F(xiàn)方便、快捷、自動地在塊體材料的EBSD和薄樣品的TKD之間切換。使用DED相機，利用其沒有光纖或透鏡的優(yōu)點，便于大角度切換其采集方向。