直接電子探測相機(jī)進(jìn)行EBSD和TKD測試切換的裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011062009.7 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN112051288A | 公開（公告）日 | 2020-12-08 |
| 申請公布號(hào) | CN112051288A | 申請公布日 | 2020-12-08 |
| 分類號(hào) | G01N23/203(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 張偉;鄧偉;許佳佳;彭璟;樊申騰;張濤 | 申請（專利權(quán)）人 | 深圳市美信檢測技術(shù)股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京高沃律師事務(wù)所 | 代理人 | 深圳市美信檢測技術(shù)股份有限公司 |
| 地址 | 518108廣東省深圳市寶安區(qū)石巖街道松白公路北側(cè)方正科技工業(yè)園研發(fā)樓1108室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開直接電子探測相機(jī)進(jìn)行EBSD和TKD測試切換的裝置，涉及測試裝置技術(shù)領(lǐng)域，主要結(jié)構(gòu)包括包括底座、滑動(dòng)臂、中間臂和前臂；所述滑動(dòng)臂可滑動(dòng)的設(shè)置于所述底座上，所述中間臂可轉(zhuǎn)動(dòng)的設(shè)置于所述滑動(dòng)臂與所述前臂之間，直接電子探測器設(shè)置于所述前臂的前端。通過調(diào)整中間臂和前臂的角度以改變直接電子探測器的角度，通過滑動(dòng)臂改變直接電子探測器的的水平方向的位置，從而能夠?qū)崿F(xiàn)方便、快捷、自動(dòng)地在塊體材料的EBSD和薄樣品的TKD之間切換。使用DED相機(jī)，利用其沒有光纖或透鏡的優(yōu)點(diǎn)，便于大角度切換其采集方向。?? |
