缺陷檢測(cè)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201811110575.3 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN109300127A | 公開（公告）日 | 2019-02-01 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN109300127A | 申請(qǐng)公布日 | 2019-02-01 |
| 分類號(hào) | G06T7/00;G06T7/62;G06T7/70;G06T5/00 | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 周凱;廖方誠;張孟;吳小飛;曾江東;王珂;王文濤;江銀鳳 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 中興新通訊有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳中細(xì)軟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 仉玉新 |
| 地址 | 518000 廣東省深圳市羅湖區(qū)蓮塘鵬基工業(yè)區(qū)710棟6樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)涉及一種缺陷檢測(cè)方法，該方法包括：獲取待檢測(cè)的目標(biāo)主體對(duì)應(yīng)的目標(biāo)圖像，對(duì)所述目標(biāo)圖像進(jìn)行高斯差分處理得到高斯差分圖像，當(dāng)根據(jù)所述高斯差分圖像確定所述目標(biāo)主體中存在多個(gè)缺陷時(shí)，獲取每個(gè)缺陷在所述目標(biāo)圖像中的位置，根據(jù)每個(gè)缺陷的位置計(jì)算兩兩缺陷之間的重合度，根據(jù)所述重合度進(jìn)行缺陷合并，確定與所述目標(biāo)主體對(duì)應(yīng)的合并后的目標(biāo)缺陷信息。此外，還提出了一種缺陷檢測(cè)裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。 |
