基于SERF磁強計的三維原位磁線圈標定實驗裝置及方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201910522251.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN110426651B | 公開(公告)日 | 2019-11-08 |
申請公布號 | CN110426651B | 申請公布日 | 2019-11-08 |
分類號 | G01R33/032(2006.01)I;G01R33/00(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 韓邦成;丁中亞;周斌權(quán);池浩湉 | 申請(專利權(quán))人 | 杭州德祺醫(yī)療科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京海虹嘉誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 北京航空航天大學 |
地址 | 100191北京市海淀區(qū)學院路37號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 基于SERF磁強計的三維原位磁線圈標定實驗裝置及方法,通過在磁通門磁強計對磁補償線圈進行粗標定的基礎上,利用SERF磁強計對三維原位磁線圈進行精標定,所述精標定包括同時在三個方向的磁補償線圈輸入電流,然后通過SERF磁強計來測量所產(chǎn)生三個方向的磁場大小,并對所測量的三個方向的I?B數(shù)據(jù)進行最小二乘法擬合,得到三個方向的磁補償線圈常數(shù),從而有效提高磁補償線圈常數(shù)的標定精度。?? |
