基于SERF磁強計的三維原位磁線圈標定實驗裝置及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910522251.9 申請日 -
公開（公告）號 CN110426651A 公開（公告）日 2019-11-08
申請公布號 CN110426651A 申請公布日 2019-11-08
分類號 G01R33/032（2006.01）I; G01R33/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 韓邦成; 丁中亞; 周斌權; 池浩湉 申請（專利權）人 杭州德祺醫(yī)療科技有限公司
代理機構 北京海虹嘉誠知識產權代理有限公司 代理人 北京航空航天大學
地址 100191 北京市海淀區(qū)學院路37號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 基于SERF磁強計的三維原位磁線圈標定實驗裝置及方法，通過在磁通門磁強計對磁補償線圈進行粗標定的基礎上，利用SERF磁強計對三維原位磁線圈進行精標定，所述精標定包括同時在三個方向的磁補償線圈輸入電流，然后通過SERF磁強計來測量所產生三個方向的磁場大小，并對所測量的三個方向的I?B數據進行最小二乘法擬合，得到三個方向的磁補償線圈常數，從而有效提高磁補償線圈常數的標定精度。