一種基于光頻移調(diào)制的SERF原子磁強計裝置及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810318407.7 申請日 -
公開（公告）號 CN108519566B 公開（公告）日 2020-04-17
申請公布號 CN108519566B 申請公布日 2020-04-17
分類號 G01R33/032 分類 測量；測試;
發(fā)明人 房建成;陸吉璽;楊可;趙俊鵬;丁銘;全偉;劉剛 申請（專利權(quán)）人 杭州德祺醫(yī)療科技有限公司
代理機構(gòu) 北京科迪生專利代理有限責(zé)任公司 代理人 北京航空航天大學(xué)
地址 100191 北京市海淀區(qū)學(xué)院路37號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于光頻移調(diào)制的SERF原子磁強計裝置及方法。常規(guī)的調(diào)制式SERF原子磁強計方法是采用線圈產(chǎn)生交流磁場進(jìn)而對原子自旋進(jìn)行調(diào)制，這一方法容易引起磁場噪聲干擾。本發(fā)明公開的光頻移調(diào)制的SERF原子磁強計裝置及方法是額外增加一束波長為堿金屬原子D1線附近的激光，通過對液晶相位延遲器的調(diào)制，使該激光作用于堿金屬原子產(chǎn)生光頻移調(diào)制的效果。由于光頻移對于堿金屬原子而言相當(dāng)于一個“虛擬”磁場，因此本發(fā)明公開的裝置及方法可替代常規(guī)的磁場調(diào)制裝置及方法，能夠消除磁場調(diào)制過程中引入的噪聲干擾。