一種半圓孔測量用檢具

基本信息

申請?zhí)?/td> 2020210305562 申請日 -
公開（公告）號 CN212409653U 公開（公告）日 2021-01-26
申請公布號 CN212409653U 申請公布日 2021-01-26
分類號 G01B21/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 束勇方 申請（專利權）人 江蘇江大金屬表面處理技術研究院有限公司
代理機構 北京艾皮專利代理有限公司 代理人 馮鐵惠
地址 224100江蘇省鹽城市大豐區(qū)經濟開發(fā)區(qū)西康南路61號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種半圓孔測量用檢具，屬于檢具技術領域，解決了現有裝置不能靈活的調節(jié)檢測設備的位置，降低了檢測效率的問題；其技術特征是：包括支撐柱和支撐橫板，支撐柱的頂部固定安裝有支撐橫板，支撐橫板上設有測量機構，測量機構包括調節(jié)組件、升降組件和檢測組件，調節(jié)組件安裝在支撐橫板上，調節(jié)組件連接有升降組件，升降組件的一側設有檢測組件；本實用新型實施例設置了升降組件，能對檢測組件的高度進行靈活的調節(jié)，進而適應不同環(huán)境下半圓孔的測量工作，且調節(jié)方便，操作簡單，利于推廣使用。??