一種老化測(cè)試系統(tǒng)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201821407661.6 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN209070026U | 公開(kāi)(公告)日 | 2019-07-05 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN209070026U | 申請(qǐng)公布日 | 2019-07-05 |
分類號(hào) | G01R31/00(2006.01)I; G01M7/02(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 張澤勝 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 深圳市精日昌電子科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 深圳市中科創(chuàng)為專利代理有限公司 | 代理人 | 深圳市精日昌電子科技有限公司 |
地址 | 518000 廣東省深圳市寶安區(qū)石巖街道料坑村料坑大道東四號(hào)料坑工業(yè)園廠房17棟 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型公開(kāi)一種老化測(cè)試系統(tǒng),包括老化架、傳送裝置、超聲波儀器、電源參數(shù)測(cè)試裝置、高壓測(cè)試裝置、ATE綜合測(cè)試裝置以及若干治具,所述傳送裝置用于傳送待測(cè)試充電插頭,包括傳送導(dǎo)槽,所述超聲波儀器、電源參數(shù)測(cè)試裝置、老化架、高壓測(cè)試裝置、ATE綜合測(cè)試裝置沿所述傳送導(dǎo)槽從前之后依次擺放安裝,分別用于完成待測(cè)試充電插頭的超聲測(cè)試、參數(shù)測(cè)試、振動(dòng)老化測(cè)試、高壓測(cè)試、綜合測(cè)試。本實(shí)用新型集成多種老化檢測(cè)設(shè)備,同時(shí)完成多個(gè)老化測(cè)試步奏,自動(dòng)化程度高,效率高。 |
