一種基于圖像篡改定位模型的圖像處理方法及終端

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111382896.0 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN114078156A 公開(kāi)（公告）日 2022-02-22
申請(qǐng)公布號(hào) CN114078156A 申請(qǐng)公布日 2022-02-22
分類號(hào) G06T7/70（2017.01）I;G06T7/11（2017.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06V10/82（2022.01）I;G06V10/26（2022.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 陳保營(yíng);譚舜泉;楊銳;劉永亮;李斌;黃繼武 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 淘寶（中國(guó)）軟件有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市君勝知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 朱陽(yáng)波;陳專
地址 518060廣東省深圳市南山區(qū)南海大道3688號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種基于圖像篡改定位模型的圖像處理方法及終端，所述圖像篡改定位模型包括：預(yù)處理卷積層、雙卷積特征提取層、四個(gè)下采樣卷積模塊、四個(gè)上采樣卷積模塊和輸出卷積層；所述圖像處理方法包括：將篡改圖像輸入到所述圖像篡改定位模型，通過(guò)DCT?Layer預(yù)處理卷積層或者SRM?Layer預(yù)處理卷積層提取所述篡改圖像的手工特征；將所述手工特征輸入到雙卷積特征提取層以得到深度特征；將所述深度特征輸入到四個(gè)下采樣卷積模塊和四個(gè)上采樣卷積模塊分別進(jìn)行下采樣和上采樣；將經(jīng)過(guò)上采樣得到的特征輸入到輸出卷積層，通過(guò)輸出卷積層輸出最終預(yù)測(cè)的掩碼圖，所述掩碼圖用于預(yù)測(cè)所述篡改圖像的篡改區(qū)域。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了無(wú)需借助大規(guī)模篡改數(shù)據(jù)集預(yù)訓(xùn)練下更好的性能。