一種低時延的試驗儀器測控系統(tǒng)結(jié)構(gòu)及其方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010248912.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113032324A 公開（公告）日 2021-06-25
申請公布號 CN113032324A 申請公布日 2021-06-25
分類號 G06F15/163;G06F3/05 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 趙國峰;李守東 申請（專利權(quán)）人 大連新亮興電子技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 上海宏威知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 趙芳梅
地址 110000 遼寧省大連市金州區(qū)保稅區(qū)洞庭路1號自貿(mào)大廈732D-7室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種低時延的試驗儀器測控系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，其包括MCU處理器、與所述MCU處理器連接若干功能模塊，各所述功能模塊中包括若干依據(jù)功能說明劃分的外設(shè)器件；每一功能模塊均通過CPLD可編程門陣列芯片編程驅(qū)動；各所述CPLD可編程門陣列芯片再以并行總線的方式與所述MCU處理器進行交互。本申請的低時延的試驗儀器測控系統(tǒng)結(jié)構(gòu)可解決在試驗儀器領(lǐng)域高性能處理器與低性能、多樣性的外設(shè)單元之間通訊瓶頸問題，從而實現(xiàn)系統(tǒng)低時延的，解決了本行業(yè)對控制系統(tǒng)要求高實時性的問題。