一種微波/毫米波集成電路芯片內(nèi)部檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022291888.2 申請日 -
公開（公告）號 CN213813858U 公開（公告）日 2021-07-27
申請公布號 CN213813858U 申請公布日 2021-07-27
分類號 G01R31/28（2006.01） 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張林生;戴矣軒 申請（專利權(quán)）人 深圳芯盛思技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 北京中濟緯天專利代理有限公司 代理人 張磊
地址 518034 廣東省深圳市福田區(qū)蓮花街道福中社區(qū)福中一路1001號生命保險大廈十七層1702室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型為一種微波/毫米波集成電路芯片內(nèi)部檢測裝置，本實用新型通過如下技術(shù)方案實現(xiàn)：它包括微波/毫米波信號轉(zhuǎn)化模塊，將微波/毫米波信號的指定參數(shù)轉(zhuǎn)化為可測參數(shù)；參考參數(shù)編輯模塊，用于編輯參考參數(shù)；比較模塊，通過預(yù)留的參考參數(shù)與可測參數(shù)進行比較，并產(chǎn)生比較結(jié)果；判定電路模塊，接受比較模塊產(chǎn)生的比較結(jié)果，結(jié)合實際芯片對微波/毫米波電路的性能和功能的需求做出判定，并將最終的結(jié)果以數(shù)字信號形式或模擬信號形式輸出至芯片外。本實用新型通過將微波/毫米波信號強度（即幅值）轉(zhuǎn)換成直流電平、以及將微波/毫米波的信號頻率轉(zhuǎn)換成數(shù)字代碼進行測試比較，從而可以顯著降低測試時間和費用。