一種微波/毫米波集成電路芯片內部檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011101046.4 申請日 -
公開（公告）號 CN112415361A 公開（公告）日 2021-02-26
申請公布號 CN112415361A 申請公布日 2021-02-26
分類號 G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張林生;戴矣軒 申請（專利權）人 深圳芯盛思技術有限公司
代理機構 北京中濟緯天專利代理有限公司 代理人 張磊
地址 518034廣東省深圳市福田區(qū)蓮花街道福中社區(qū)福中一路1001號生命保險大廈十七層1702室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明為一種微波/毫米波集成電路芯片內部檢測裝置，本發(fā)明通過如下技術方案實現(xiàn)：它包括微波/毫米波信號轉化模塊，將微波/毫米波信號的指定參數(shù)轉化為可測參數(shù)；參考參數(shù)編輯模塊，用于編輯參考參數(shù)；比較模塊，通過預留的參考參數(shù)與可測參數(shù)進行比較，并產生比較結果；判定電路模塊，接受比較模塊產生的比較結果，結合實際芯片對微波/毫米波電路的性能和功能的需求做出判定，并將最終的結果以數(shù)字信號形式或模擬信號形式輸出至芯片外。本發(fā)明通過將微波/毫米波信號強度(即幅值)轉換成直流電平、以及將微波/毫米波的信號頻率轉換成數(shù)字代碼進行測試比較，從而可以顯著降低測試時間和費用。??