一種測試光學(xué)指紋模組功能的雙模治具
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202022628818.1 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN213274781U | 公開（公告）日 | 2021-05-25 |
| 申請公布號 | CN213274781U | 申請公布日 | 2021-05-25 |
| 分類號 | G01M11/00(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 李蕭;劉亮;孫建成 | 申請（專利權(quán)）人 | 廣東智芯光電科技股份有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京卓特專利代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 段宇 |
| 地址 | 528400 廣東省中山市火炬開發(fā)區(qū)益圍路12號1F、2F | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實用新型涉及一種測試光學(xué)指紋模組功能的雙模治具，包括治具支架、光罩模塊、光源模塊、chart圖測試模塊、SOCKET測試模塊和氣動壓合模塊；所述治具支架包括兩個側(cè)支架、安裝板和支撐板，所述SOCKET測試模塊固定安裝在所述安裝板上，模組放置在所述SOCKET測試模塊內(nèi)，所述氣動壓合模塊用于將模組壓緊在SOCKET測試模塊內(nèi)；所述chart圖測試模塊設(shè)置在所述安裝板下方，所述支撐板上安裝有用于帶動chart圖測試模塊進行方位調(diào)整的方位調(diào)整機構(gòu)；所述光源模塊設(shè)置在所述chart圖測試模塊下方，所述光源模塊包括光源和光源調(diào)整機構(gòu)，所述光源調(diào)整機構(gòu)安裝在所述支撐板上；所述光罩模塊用于對光源發(fā)出的光進行遮擋。本實用新型具有便于調(diào)整，檢測精度高，遮光性好，誤差小的優(yōu)點。?? |
