一種基于廣義極值理論的瓷絕緣子紅外檢測閾值優(yōu)化方法、系統(tǒng)及存儲介質(zhì)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201911153400.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN111141996A | 公開(公告)日 | 2020-05-12 |
申請公布號 | CN111141996A | 申請公布日 | 2020-05-12 |
分類號 | G01R31/12;G01R27/02;G01J5/00;G06F30/20 | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 劉洋;高嵩;李來福;高超;王永強;畢曉甜;張廼龍 | 申請(專利權)人 | 湖南湖大華龍電氣與信息技術有限公司 |
代理機構(gòu) | 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) | 代理人 | 國家電網(wǎng)有限公司;湖南湖大華龍電氣與信息技術有限公司;國網(wǎng)江蘇省電力有限公司電力科學研究院;江蘇省電力試驗研究院有限公司 |
地址 | 211100 江蘇省南京市江寧區(qū)帕威爾路1號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于廣義極值理論的瓷絕緣子紅外檢測閾值優(yōu)化方法、系統(tǒng)及存儲介質(zhì),包括如下步驟:將紅外檢測出來的劣化絕緣子利用絕緣電阻表測試阻值,選擇絕緣電阻作為樣本集;求出劣化絕緣子溫差數(shù)據(jù);使用廣義極值分布對樣本進行擬合,根據(jù)廣義極值分布的函數(shù)表達式,對函數(shù)的三個參數(shù)進行極大似然估計,得到分布的參數(shù)值,求出劣化絕緣子溫差數(shù)學模型;采用K?S檢驗,檢驗樣本是否符合分布;紅外檢測瓷絕緣子溫差閾值的獲取。本發(fā)明利用極值理論對樣本進行擬合分析,得到紅外檢測瓷絕緣子的不同程度的溫差閾值,完善了判定準則,從而提高了紅外檢測瓷絕緣子的檢測準確率,大大降低了電網(wǎng)系統(tǒng)存在的隱患。 |
