基于線性光采樣的強度調制光信號眼圖測量裝置及方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202010795364.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN111917485A | 公開(公告)日 | 2020-11-10 |
申請公布號 | CN111917485A | 申請公布日 | 2020-11-10 |
分類號 | H04B10/54(2013.01)I;H04B10/524(2013.01)I | 分類 | 電通信技術; |
發(fā)明人 | 付松年;何歡;黃秋元;馬超 | 申請(專利權)人 | 武漢普賽斯電子股份有限公司 |
代理機構 | 湖北天領艾匹律師事務所 | 代理人 | 武漢普賽斯電子技術有限公司 |
地址 | 430000湖北省武漢市東湖新技術開發(fā)區(qū)光谷大道308號光谷動力節(jié)能環(huán)??萍计髽I(yè)孵化器(加速器)一期9棟4層車間1號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及基于線性光采樣的強度調制光信號眼圖測量裝置及方法,所述裝置包括待測信號輸入端、本振脈沖光源,待測信號輸入端、本振脈沖光源均連接到3×3光耦合器,3×3光耦合器的輸出分為三路,其中第一路輸出經光電探測器一、模數轉換器一連接到數字信號處理單元,第二路輸出經光電探測器二、模數轉換器二連接到數字信號處理單元,第三路輸出經光電探測器三、模數轉換器三連接到數字信號處理單元。本申請的基于線性光采樣的強度調制光信號眼圖測量裝置及方法,具有高靈敏度、高保真度、高分辨率;簡化了線性光采樣的光學前端,降低了硬件開銷;光電探測器不平衡度易補償,簡單可靠;可測量任意強度調制光信號,對本振脈沖光源的要求低。?? |
