電子器件老化試驗(yàn)系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110739083.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113406423A | 公開(公告)日 | 2021-09-17 |
申請公布號 | CN113406423A | 申請公布日 | 2021-09-17 |
分類號 | G01R31/00(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 周鵬;馬超;徐智號;唐朋 | 申請(專利權(quán))人 | 武漢普賽斯電子股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 武漢維盾知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 彭永念 |
地址 | 430014湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)光谷大道308號光谷動力綠色環(huán)保產(chǎn)業(yè)園9棟4樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供一種電子器件老化試驗(yàn)系統(tǒng),包括殼體,在殼體內(nèi)設(shè)有支架,支架用于承載多個(gè)老化試驗(yàn)?zāi)K,支架將殼體內(nèi)腔分隔為進(jìn)風(fēng)風(fēng)道和回風(fēng)風(fēng)道;支架上設(shè)有多個(gè)試驗(yàn)進(jìn)風(fēng)口,試驗(yàn)進(jìn)風(fēng)口對準(zhǔn)老化試驗(yàn)?zāi)K,試驗(yàn)進(jìn)風(fēng)口連通進(jìn)風(fēng)風(fēng)道和回風(fēng)風(fēng)道;進(jìn)風(fēng)風(fēng)道與回風(fēng)風(fēng)道之間設(shè)有循環(huán)風(fēng)機(jī),以使風(fēng)在進(jìn)風(fēng)風(fēng)道與回風(fēng)風(fēng)道之間往復(fù)循環(huán)。能夠均勻的分配給予各個(gè)試驗(yàn)元件的測試環(huán)境,確保試驗(yàn)結(jié)果的一致性。設(shè)置的加熱裝置、溫度傳感器、循環(huán)風(fēng)機(jī)、電控新風(fēng)口和主控裝置的組合,能夠在安全可控的范圍內(nèi),利用模擬的極限環(huán)境,加速得出試驗(yàn)結(jié)果。設(shè)置的進(jìn)風(fēng)壓力傳感器、回風(fēng)壓力傳感器和主控裝置的組合,還能夠進(jìn)一步的提高試驗(yàn)的效率。 |
