一種光學檢測設(shè)備及檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201880001109.3 申請日 -
公開（公告）號 CN108780036B 公開（公告）日 2021-10-22
申請公布號 CN108780036B 申請公布日 2021-10-22
分類號 G01N21/25（2006.01）I;G01N21/65（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 駱磊;牟濤濤;遲雪 申請（專利權(quán)）人 深圳達闥科技控股有限公司
代理機構(gòu) 北京竹辰知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 陳龍
地址 518000廣東省深圳市前海深港合作區(qū)前灣一路1號A棟201室（入駐深圳市前海商務(wù)秘書有限公司）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及光學檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種檢測設(shè)備及檢測方法。該光學檢測設(shè)備，包括：設(shè)備主體、檢測探頭和壓力傳感器，壓力傳感器設(shè)置在檢測探頭上，檢測探頭對準所述設(shè)備主體的光線出入口，壓力傳感器與設(shè)備主體建立通信連接；壓力傳感器，用于檢測所述檢測探頭承受的壓力值，并將壓力值傳輸給設(shè)備主體；設(shè)備主體，用于獲取壓力傳感器傳輸?shù)膲毫χ?，根?jù)壓力值判斷是否有放置的待檢測物，并在確定有放置的待檢測物后啟動檢測過程。該光學檢測設(shè)備能夠解決使用光學檢測設(shè)備檢測物質(zhì)的過程中不能放置待檢測的物質(zhì)的情況。