一種從批量厚膜晶片電阻中抽樣檢測裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111246597.4 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN113985133A | 公開（公告）日 | 2022-01-28 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113985133A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-01-28 |
| 分類號(hào) | G01R27/02（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I;B65G49/07（2006.01）I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 帥曉晴;蔡薇;吳倩楠;王新;何園彰;仲期勝 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 江西昶龍科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 南昌中擎知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 陳海濤 |
| 地址 | 332000江西省九江市柴桑區(qū)沙城工業(yè)園（九江慶輝實(shí)業(yè)有限公司內(nèi)） | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種從批量厚膜晶片電阻中抽樣檢測裝置，包括：用于輸送厚膜晶片的輸送帶一；固定于所述輸送帶一前端面的工作臺(tái)，所述工作臺(tái)上端面安裝有與所述輸送帶一平行設(shè)置的輸送帶二。本發(fā)明中，通過往復(fù)移動(dòng)的吸盤，可以將生產(chǎn)線上帶有厚膜電阻的晶片，取樣移動(dòng)至輸送帶二上進(jìn)行電阻檢測，并且安裝不同數(shù)量的吸盤，與現(xiàn)有抽樣裝置相比，吸盤可以吸附在取樣晶片的居中位置，防止抽樣過程中造成晶片受力不均勻，斷裂損壞的情況，可以根據(jù)生產(chǎn)線上不同數(shù)量的晶片，自由控制抽樣數(shù)，提高抽樣檢測的精準(zhǔn)度，且抽樣速度快，無需停止生產(chǎn)線進(jìn)行上下料抽樣，更適用于厚膜晶片電阻大批量生產(chǎn)和抽樣檢測作業(yè)，提高工廠的加工效率。 |
