一種基于有限元模擬獲取直流電位法標(biāo)定函數(shù)的方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111165729.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113792470A | 公開(公告)日 | 2021-12-14 |
申請公布號 | CN113792470A | 申請公布日 | 2021-12-14 |
分類號 | G06F30/23;G06F30/10;G06T17/20 | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 劉蘭舟;張海偉;高怡婓;孫曉陽;翟戰(zhàn)江;趙海聲 | 申請(專利權(quán))人 | 鋼研納克檢測技術(shù)股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京化育知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 秦麗 |
地址 | 100000 北京市海淀區(qū)高梁橋斜街13號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于有限元模擬獲取直流電位法標(biāo)定函數(shù)的方法,該方法包括:在有限元分析軟件中建立標(biāo)準(zhǔn)C(T)試樣模型;將純鐵的密度、電導(dǎo)率賦予模型,并進(jìn)行裝配;在標(biāo)準(zhǔn)C(T)試樣的前表面劃分出特定長度的裂紋線,再沿試樣厚度方向切割實(shí)體,形成試樣內(nèi)表面,對試樣內(nèi)表面賦予Seam屬性,使其具有裂紋的性質(zhì);保持電流輸入點(diǎn)施加的面電流不變,在恒定電流下獲得電勢差測量點(diǎn)之間不同裂紋長度對應(yīng)的電勢差;對獲得的裂紋長度?電勢差數(shù)據(jù)作歸一化處理,之后,選取適當(dāng)?shù)臉?biāo)定函數(shù)進(jìn)行擬合,得到標(biāo)定函數(shù)的系數(shù)。本發(fā)明所得的標(biāo)定函數(shù)應(yīng)用于室溫疲勞裂紋擴(kuò)展試驗(yàn)中測量裂紋長度,其測量準(zhǔn)確性與柔度法相當(dāng),測得的裂紋長度十分接近從試樣斷面目測的結(jié)果。 |
