一種多探測(cè)器及多光管的X射線熒光光譜儀及針對(duì)大體積樣品的X射線熒光光譜檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201210052157.X 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN103293174A 公開（公告）日 2013-09-11
申請(qǐng)公布號(hào) CN103293174A 申請(qǐng)公布日 2013-09-11
分類號(hào) G01N23/223(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 楊李鋒;張峰;劉鐸 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 納優(yōu)科技（北京）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京尚誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 魯兵
地址 100123 北京市朝陽(yáng)區(qū)朝陽(yáng)路67號(hào)院8#樓1單元1201室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種多探測(cè)器及多光管的X射線熒光光譜儀，包括外殼組件、樣品倉(cāng)組件、X光管組件、探測(cè)器組件和濾光系統(tǒng)組件，其中樣品倉(cāng)組件組裝在外殼組件內(nèi)，包括向上開口的倉(cāng)體和用于封閉倉(cāng)體的倉(cāng)門，倉(cāng)體內(nèi)有容置空間；X光管組件設(shè)多個(gè)，包括X光管，X光管的出射口朝向倉(cāng)體的容置空間；探測(cè)器組件設(shè)多個(gè)，包括探測(cè)器，探測(cè)器的探測(cè)頭朝向倉(cāng)體的容置空間。本發(fā)明可以對(duì)置于在較大空間內(nèi)的物品進(jìn)行全方位的測(cè)定分析，測(cè)量時(shí)間短，準(zhǔn)確度高，對(duì)安檢、在線質(zhì)量監(jiān)控等領(lǐng)域的檢測(cè)特別適用。