一種多探測器及多光管的X射線熒光光譜儀及針對大體積樣品的X射線熒光光譜檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201210052157.X 申請日 -
公開（公告）號 CN103293174B 公開（公告）日 2015-07-01
申請公布號 CN103293174B 申請公布日 2015-07-01
分類號 G01N23/223(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊李鋒;張峰;劉鐸 申請（專利權(quán)）人 納優(yōu)科技（北京）有限公司
代理機構(gòu) 北京尚誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 魯兵
地址 100123 北京市朝陽區(qū)朝陽路67號院8#樓1單元1201室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種多探測器及多光管的X射線熒光光譜儀，包括外殼組件、樣品倉組件、X光管組件、探測器組件和濾光系統(tǒng)組件，其中樣品倉組件組裝在外殼組件內(nèi)，包括向上開口的倉體和用于封閉倉體的倉門，倉體內(nèi)有容置空間；X光管組件設(shè)多個，包括X光管，X光管的出射口朝向倉體的容置空間；探測器組件設(shè)多個，包括探測器，探測器的探測頭朝向倉體的容置空間。本發(fā)明可以對置于在較大空間內(nèi)的物品進行全方位的測定分析，測量時間短，準確度高，對安檢、在線質(zhì)量監(jiān)控等領(lǐng)域的檢測特別適用。