一種碲化鋅鎘晶體的檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010065066.4 申請日 -
公開（公告）號 CN111157547A 公開（公告）日 2020-05-15
申請公布號 CN111157547A 申請公布日 2020-05-15
分類號 G01N23/00;G01T7/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 殷實(shí);尹朝暉;尹朝蓉 申請（專利權(quán)）人 成都閏德芯傳感器技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 重慶中之信知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 成都閏德芯傳感器技術(shù)有限公司
地址 610041 四川省成都市高新區(qū)榮華南路366號4棟1單元7層712號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開一種碲化鋅鎘晶體的檢測方法，其測量出碲化鋅鎘晶體導(dǎo)通電流隨偏執(zhí)電壓增加的曲線，將所述曲線的拐點(diǎn)對應(yīng)的偏執(zhí)電壓Ve運(yùn)用公式μτ＝d2/Ve，其中，d為碲化鋅鎘晶體的厚度，μτ為電子遷移率壽命積。簡化了測量碲化鋅鎘晶體的電子遷移率壽命積的測量方法。