一種基于層次級特征的細(xì)胞膜分割方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201310237642.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN103353938B | 公開(公告)日 | 2016-04-13 |
申請公布號 | CN103353938B | 申請公布日 | 2016-04-13 |
分類號 | G06K9/46(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 尹義龍;楊公平;王雙玲;王李進(jìn);張彩明 | 申請(專利權(quán))人 | 山東幻科信息科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 濟(jì)南圣達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 張勇 |
地址 | 277400 山東省棗莊市臺兒莊區(qū)東順路古城文化產(chǎn)業(yè)園B座4樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種基于層次級特征的細(xì)胞膜分割方法,該方法充分結(jié)合像素級特征和超像素級特征的優(yōu)勢,提出層次級特征,該特征可以自適應(yīng)地描述局部上下文信息,能有效地識別細(xì)胞膜及其周圍復(fù)雜的顯微結(jié)構(gòu),進(jìn)而提高了基于監(jiān)督學(xué)習(xí)方法進(jìn)行細(xì)胞膜分割的識別性能。具體過程如下:I.預(yù)處理階段先進(jìn)行圖像增強(qiáng),然后執(zhí)行過分割獲取超像素;II.基于超像素的典型樣本點選擇III.特征提取a.像素級特征提取b.超像素級特征提取c.層次級特征提取IV.分類器分類V.后處理階段。 |
