多通道光插回損測試儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201220440139.4 申請日 -
公開（公告）號 CN202836925U 公開（公告）日 2013-03-27
申請公布號 CN202836925U 申請公布日 2013-03-27
分類號 G01M11/02(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 尹曉民 申請（專利權(quán)）人 上海光之虹光電通訊設備有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 201822 上海市嘉定區(qū)迎園路400號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 公開了一種多通道光插回損測試儀，包括光源組、多個光分路器、偏振控制器、內(nèi)置探測器多路光功率計、主控器和與主控器線路連接的外置探測器參考光功率計；具有1個或2個正向輸出測試端口和多個正向輸入測試端口，正向輸出、輸入測試端口分別通過測試用跳線與被測試器件連接；主控器分別與光源組、光開關組、多路光開關、偏振控制器、內(nèi)置探測器多路光功率計線路連接。本實用新型消除了因連接損耗不確定引起的誤差；多通道插回損、偏振相關損耗實時測量，測量效率高。