熱電材料塞貝克系數(shù)測量裝置及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201310084517.9 申請日 -
公開（公告）號 CN103472087A 公開（公告）日 2013-12-25
申請公布號 CN103472087A 申請公布日 2013-12-25
分類號 G01N25/20(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 范平;鄭壯豪;梁廣興;張東平;羅景庭;陳天寶;陳郁芝 申請（專利權(quán)）人 深圳市彩煌熱電科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市順天達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 蔡曉紅
地址 518000 廣東省深圳市寶安區(qū)龍華鎮(zhèn)清湖村清寧路6號彩煌工業(yè)園
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種熱電材料塞貝克系數(shù)測量裝置及方法，包括測量探針（24）、樣品固定平臺(tái)（12）、探針固定平臺(tái)（13）、溫度控制系統(tǒng)（14）、電學(xué)采集儀（15）、與電學(xué)采集儀（15）連接的計(jì)算機(jī)（16）以及水冷機(jī)（11）。實(shí)施本發(fā)明的有益效果是：根據(jù)樣品的大小，利用第一二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)調(diào)節(jié)加熱塊與冷卻塊的位置，使兩者夾持樣品至合適的位置，利用第二二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)調(diào)節(jié)測量探針的位置，可簡便地對樣品合適的位置進(jìn)行相應(yīng)參數(shù)的測量；再者，依次采用第一功率加熱器、第二功率加熱器對樣品表面溫度進(jìn)行控制，能夠減少測量時(shí)間以及提高測量精度。