一種激光掃描檢測中的取點方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201711443519.7 申請日 -
公開（公告）號 CN108168456B 公開（公告）日 2018-06-15
申請公布號 CN108168456B 申請公布日 2018-06-15
分類號 G01B11/24(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 陳葉金 申請（專利權）人 南京鑫業(yè)誠智能科技有限公司
代理機構 常州佰業(yè)騰飛專利代理事務所（普通合伙） 代理人 劉松
地址 211800江蘇省南京市高新開發(fā)區(qū)研創(chuàng)園團結路99號孵鷹大廈B1棟
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種激光掃描檢測中的取點新方法，屬于機加工技術領域，本發(fā)明通過測量點位附近最可靠的特征邊沿做參考基準，通過設定特征邊搜尋方向，保證取到合適的邊沿；通過指定偏移量，取到正確的測量點位，同時可以設置取點寬度，用于做一些平滑濾波、中值濾波之類的處理，使得測量數(shù)據(jù)更穩(wěn)定，解決零件本身測量部位位置度偏差造成測量取點點位存在偏差的問題，無需額外增加視覺系統(tǒng)，降低成本；本發(fā)明取點方法靈活，可選更穩(wěn)定的邊沿作為參考基準，保證取點成功率與穩(wěn)定性。??