一種激光掃描檢測中的取點(diǎn)新方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201711443519.7 申請日 -
公開（公告）號 CN108168456A 公開（公告）日 2018-06-15
申請公布號 CN108168456A 申請公布日 2018-06-15
分類號 G01B11/24 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳葉金 申請（專利權(quán)）人 南京鑫業(yè)誠智能科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 常州佰業(yè)騰飛專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 劉松
地址 211800 江蘇省南京市高新開發(fā)區(qū)研創(chuàng)園團(tuán)結(jié)路99號孵鷹大廈B1棟
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種激光掃描檢測中的取點(diǎn)新方法，屬于機(jī)加工技術(shù)領(lǐng)域，本發(fā)明通過測量點(diǎn)位附近最可靠的特征邊沿做參考基準(zhǔn)，通過設(shè)定特征邊搜尋方向，保證取到合適的邊沿；通過指定偏移量，取到正確的測量點(diǎn)位，同時(shí)可以設(shè)置取點(diǎn)寬度，用于做一些平滑濾波、中值濾波之類的處理，使得測量數(shù)據(jù)更穩(wěn)定，解決零件本身測量部位位置度偏差造成測量取點(diǎn)點(diǎn)位存在偏差的問題，無需額外增加視覺系統(tǒng)，降低成本；本發(fā)明取點(diǎn)方法靈活，可選更穩(wěn)定的邊沿作為參考基準(zhǔn)，保證取點(diǎn)成功率與穩(wěn)定性。