一種基于不均勻磁場擬合線形的自動搜索勻場方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201310611442.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN103675733B | 公開(公告)日 | 2016-01-20 |
申請公布號 | CN103675733B | 申請公布日 | 2016-01-20 |
分類號 | G01R33/3875(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 劉朝陽;宋侃;鮑慶嘉;陳黎;劉造 | 申請(專利權(quán))人 | 武漢中科云楚科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 武漢宇晨專利事務所 | 代理人 | 中國科學院武漢物理與數(shù)學研究所;武漢中科云楚科技有限公司 |
地址 | 430071 湖北省武漢市武昌區(qū)小洪山西30號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于不均勻磁場擬合線形的自動搜索勻場方法,采用梯度回波脈沖序列測量空間磁場的不均勻像,并以此擬合表征當前磁場均勻性的虛擬譜圖線形及其相關(guān)性能指標;根據(jù)勻場線圈所構(gòu)建的多維空間向量,將虛擬譜圖線形的相關(guān)性能指標作為得到的磁場均勻性好壞的評價標準,依據(jù)此評價標準進行多維下降單純形法迭代搜索,并最終返回最優(yōu)勻場電流。本發(fā)明在勻場過程中能充分考慮頻譜的半高寬和對稱性等性能指標;同時,和常規(guī)的采用梯度回波成像技術(shù)的梯度勻場相比,本勻場技術(shù)不必考慮勻場線圈場圖的測量和擬合,降低了通過梯度成像來勻場的難度和限定要求;自動擬合搜索步徑和收斂條件擺脫了繁瑣的手動設置、提高了勻場的速度和效率。 |
