電子產(chǎn)品的性能調(diào)試方法、裝置及相關(guān)產(chǎn)品

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010485769.2 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN111639812A 公開(kāi)(公告)日 2020-09-08
申請(qǐng)公布號(hào) CN111639812A 申請(qǐng)公布日 2020-09-08
分類(lèi)號(hào) G06Q10/04(2012.01)I;G06Q10/06(2012.01)I 分類(lèi) 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù);
發(fā)明人 陳志熙;劉潔;石佳;滕紅亮 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 南京星火技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京合智同創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李杰
地址 210032江蘇省南京市江北新區(qū)星火路17號(hào)創(chuàng)智大廈14樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種電子產(chǎn)品的性能調(diào)試方法、裝置及相關(guān)產(chǎn)品,調(diào)試方法包括:獲取對(duì)所述電子產(chǎn)品進(jìn)行性能測(cè)試得到的當(dāng)前性能參數(shù);判斷所述當(dāng)前性能參數(shù)是否達(dá)到所述電子產(chǎn)品合格時(shí)具備的目標(biāo)性能參數(shù);若所述當(dāng)前性能參數(shù)達(dá)不到所述目標(biāo)性能參數(shù),則對(duì)所述電子產(chǎn)品的性能進(jìn)行分析,生成將所述當(dāng)前性能參數(shù)調(diào)整到目標(biāo)性能參數(shù)的最優(yōu)策略;根據(jù)所述最優(yōu)策略,調(diào)整所述電子產(chǎn)品的物理結(jié)構(gòu)以改變所述電磁場(chǎng),使得所述電子產(chǎn)品具有所述目標(biāo)性能參數(shù),對(duì)調(diào)試的部位和調(diào)試量進(jìn)行精準(zhǔn)預(yù)測(cè),不會(huì)造成調(diào)過(guò)頭使產(chǎn)品報(bào)廢的情況,使得最終產(chǎn)品具有工藝簡(jiǎn)單,零件少,成本低,可靠性高的優(yōu)點(diǎn)。??